微机继电?；げ馐砸莇f/dt闭锁

  微机继电?；げ馐砸莇f/dt闭锁。

  df/dt测试范围

  测试“df/dt闭锁值”时，在此范围内逐点进行试探测试，每次测试时都从频率始值下滑（或上滑）至终值，下滑（或上滑）的df/dt值在该范围内逐点变化，试探至某一轮试验至?；ざ?，则测出此时的df/dt闭锁的边界值。
  因为?；ぴ诖笥谡ǖ膁f/dt值下滑时闭锁，所以，一般变化始值应设置为大于?；ふǖ谋账?，变化终值应设置为小于?；ふǖ谋账?，即测试?；ご硬欢鞯蕉?，测出?；さ膁f/dt闭锁值。

  频率变化范围

  每轮试验频率从始值下滑（或上滑）至终值。始值一般为50Hz，变化终值不能设置太小，因为一般装置都有一个固有的“闭锁频率”，频率太低了，装置将会被闭锁不出口。

  注意：做该试验时频率变化前延时一般不能太小，以使?；び凶愎皇奔浣獬账刺?。